Fertigungsmesstechnik

Schnelle phasenschiebende Elektronische Speckle-Pattern Interferometrie (ESPI)

Dipl.-Ing (FH) Robert Kowarsch

 

Stand der Technik/Motivation

  • Schnelle Erfassung der 3D-Verformung und Dickenänderung bei 2D-Zugversuchen von Kunststoffen am Institut für Technische Mechanik zur Ermittlung von Materialeigenschaften.
  • Bisherige photogammetrische Verfahren (Digital Image Correlation) erfordern aufwändige Oberflächenbehandlung mit out-of-plane Rauschen im µm-Bereich.

Methoden/Ergebnisse

  • Interferometrische Messung der out-of-plane Deformation im nm-Bereich mittels phasenschiebender, elektronischer Speckle-Pattern Interferometrie (ESPI). Ermittlung der in-plane Bewegung mit Hilfe der Speckle-Pattern Korrelationstechnik. Die Kombination beider Methoden erlaubt die Rekonstruktion der 3D-Deformation des Testobject
  • Schnelles Phasenschieben durch Wellenlängen-Tuning über den Strom durch einen Diodenlaser.

Veröffentlichungen

R. Kowarsch, J. Zhang, C. Sguazzo, S. Hartmann and C. Rembe, “Speckle-interferometric measurement system of 3D deformation to obtain thickness changes of thin specimen under tensile loads,” in Proceedings of the SPIE Optical Metrology 2017, Munich, Germany, June 2017 (DOI: 10.1117/12.2269988).

 

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